X-ışınları kırınımı yöntemi ile yapısı daha önceden Meral ve ark. tarafından incelenmiş olan N,N’-[etan-1,2-dilbis(oksi)]bis(4-metilbenzen-sülfonamid molekülünün elektronik ve kimyasal yapısı kuantum kimyasal hesaplama yöntemleri kullanılarak incelenerek sonuçları karşılaştırıldı. Bu hesaplamalar Yoğunluk Fonksiyonel Kuramı (YFK), B3LYP Modeli ve 6-311G(d,p), 6-311G+(d,p) ve 6-311++(d,p) temel baz setleri ile yapılmıştır. Geometrik parametreler, moleküler enerji, yük dağılımları, dipol momentleri, moleküler elektrostatik potansiyel haritaları, sınır orbitalleri (HOMO-LUMO) ve kimyasal sertlik değerleri teorik hesaplamalardan elde edilmiştir. Böylece x-ışınları kırınımı yöntemi ile elde edilen sonuçlara hem yeni bilgiler eklenmiş hem de teorik çalışma ile deneysel sonuçlar desteklenmiştir.
N,N’-[ethane-1,2-diylbis(oxy)]bis(4-metilbenzen-sulfonamid molecule of by X-ray diffraction analysis is was previously determined by Meral et al. The electronic and chemical structure of the N,N'-[ethane-1,2-diylbis(oxy)]bis(4-methylbenzene-sulfonamide molecule, which was investigated of B3LYP model and 6-311G(d,p), 6-311G+(d,p) and 6-311++(d,p) fundamental basis sets. The geometrical parameters, molecular energies, charge distributions, dipole moments, moleculer electrostatic potantials maps, frontier orbitals (HOMO-LUMO) and chemical hardness were obtained from theoretical calculations. Thus, both new information is added to the results which are handled with from x-ray diffraction method and therotical knowledge supported on with experimental results, additive information about molecules were achieved.
